Fyzikální praktikum III | úloha 30

### Jednoduché aplikace interferenčních jevů

Studijní text

Pracovní úkol:

1. Změřte tloušťku tenké vrstvy ve dvou různých místech.
2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná.
3. Okalibrujte stupnici okuláru metodou postupných měření.
4. Pomocí Newtonových interferenčních kroužků změřte oba poloměry křivosti u dvou vybraných čoček.
5. Chybu v určení poloměru křivosti stanovte z vhodně použité lineární regrese.
6. Výsledky měření v bodě 4 porovnejte s optickou mohutností čoček změřenou pomocí fokometru. Index lomu materiálu měřených čoček je 1,60.

Základní vztahy a klíčová slova:

interference světla v prošlém a odraženém světle, interference na tenké vrstvě, interference na klínu, fázový a dráhový rozdíl, podmínka pro interferenční maximum a minimum, proužky stejné tloušťky, proužky stejného sklonu [1],[3],[4],[6]

Pokyny k měření (PDF, ~ 100 kb)

Stručný návod k fokometru (PDF, ~ 120 kb)

Chyba Zpět Literatura

Hana Kudrnová

0 | 0 | 1 | 1 | 0 | 5 | 2

Tomáš Drbohlav, 9. 2. 2012